一、定义

瑞利判断是根据成像波面相对理想球面波的变形程度来判断光学系统的成像质量的。瑞利认为实际波面与参考球面波之间的最大波像差不超过λ/4时，此波面可以看作是无缺陷的，此判断为瑞利判断。该判断提出了光学系统成像时所允许存在的最大波像差公差，即认为波像差W<λ/4时，光学系统的成像质量是良好的。

二、优缺点

瑞利判断的优点是便于实际应用，因为波像差与几何像差之间的计算关系比较简单，只要利用几何光学中的光路计算得出几何像差曲线，由曲线图形积分便可方便的得到波像差，由所得到的波像差即可判断光学系统的成像质量优劣。反之，由波像差和几何像差之间的关系，利用瑞利判断也可以得到几何像差的公差范围，这对实际光学系统的讨论更为有利。

瑞利判断虽然使用方便，但也存在不够严密之处。因为它只考虑波像差的最大允许公差，而没考虑缺陷部分在整个波面面积中所占的比重。例如，透镜中的小气泡或表面划痕等，可能在某一局部会引起很大的波像差，按照瑞利判断，这是不允许的。但在实际成像过程中，这种局部极小区域的缺陷，对光学系统的成像质量并非有明显的影响。

三、发展前景

现代光学软件已能计算并绘制实际出射波面的整体情况。如图一、图二、图三。设计者既能了解波面变形的程度，也能了解变形的面积大小。因此，瑞利判断法正逐步克服其缺陷，在小像差系统中获得越来越广泛的应用。








【来源：光虎光学内部培训资料】